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关于薄样X射线荧光光谱强度理论公式推导的探讨

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王质彬赵萍

中文关键词: 薄样 X射线荧光光谱强度微量分析

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引用本文：王质彬,赵萍.关于薄样X射线荧光光谱强度理论公式推导的探讨[J].计测技术,1990,(5):12~15,45.