| 基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势 |
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| 修订日期：1998-09-10 |
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| 中文摘要: |
| 简要介绍了边界扫描技术，并介绍了基于边界扫描的电路板BIT技术的研究现状，然后分析了目前此技术存在的关键问题和发展趋势。 |
| 英文摘要: |
| In this paper,the boundary scan technique and the researching status of circuit boardtechnique based on the boundary scan are presented. The key problem existing in this technique anddeveloping trend are analyzed. |
| 温熙森 刘冠军 黎琼炜 易晓山 |
| 国防科技大学智能监控与故障诊断研究室!湖南省长沙市，410073 |
| 中文关键词: 边界扫描,板级BIT,混合技术电路板 |
| 英文关键词:Boundary scan, Board-level BIT, Mixed technique circuit board, |
| 基金项目:：“九五”国防预研项目支持 |
| DOI： |
| 引用本文：温熙森,刘冠军,黎琼炜,易晓山.基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势[J].计测技术,1999,(3):38~41. |
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