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嵌入式存储器自修复电路的设计与仿真

Design and Simulation of Embedded Memory Self repaired Circuits

中文摘要:

介绍了一种存储器自修复电路的仿真设计，其中内建自测试模块中的地址生成器采用LFSR设计，它面积开销相当小，从而大大降低了整个测试电路的硬件开销。而内建自修复模块采用基于一维冗余（冗余行块）结构的修复策略设计。通过16×32比特SRAM自修复电路设计实验验证了此方法的可行性。

英文摘要:

王丽

南京航空航天大学金城学院,江苏南京211156

中文关键词: 嵌入式存储器 SRAM 线性反馈移位寄存器（LFSR）自测试自修复

英文关键词:SRAM

基金项目:

DOI：10.11823/hkjcjs.1674-5795.2010.30.1.006.

引用本文：王丽.嵌入式存储器自修复电路的设计与仿真[J].计测技术,2010,30(1):14~17.