平面等厚干涉仪中标准平晶平面度检定的误差分析
Error Analysis of Standard Flat Crystal Flatness Verification in Plane Equal Thickness Interferometer
  
HTML  查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
中文摘要:
      
英文摘要:
周铁
中文关键词:  光学仪器 干涉仪 等厚干涉仪
英文关键词:
基金项目:
DOI:
引用本文:周铁.平面等厚干涉仪中标准平晶平面度检定的误差分析[J].计测技术,1989,(1):17~20,6.
关闭