| 夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用 |
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| 中文摘要: |
| 在精密测角仪设计中应用了夫琅和费衍射光栅系统，通过理论分析和对光学系统的改进，已调了视场均匀，条纹清晰，对比度好的衍射－干涉条纹，为多路合成获得高精度的衍射－干涉条纹及电路进行８００倍细分，奠定了良好基础。 |
| 英文摘要: |
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| 林莹 |
| 长城计量测试技术研究所!北京市，100095 |
| 中文关键词: 夫琅和费衍射 测角仪 光学系统 干涉条纹 |
| 英文关键词: |
| 基金项目: |
| DOI： |
| 引用本文：林莹.夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用[J].计测技术,1995,(4):29~31. |
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