| VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法 |
| Method of Eliminating Error Caused by User''''s Aid-hardware during the Test of VLSI Chip |
| 修订日期：2000-09-04 |
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| 中文摘要: |
| 在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。 |
| 英文摘要: |
| During VLSI test,the error caused by user's aid\|hardware is always the key problem cumbering the precision and reliability of test and measurement.Based on ITS9000MX,this paper introduces a method of eliminating the error caused by user's aid\|hardware during VLSI test.Under the existing condition,this method is simple and convenient.It can be a reference for the tester who has the relative measuring system. |
| 沈森祖 石坚 汪喜麟 |
| 武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074，武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074，武汉数学工程研究所!武汉市洪山区珞瑜路718号，430074 |
| 中文关键词: VLSI,测试,误差 |
| 英文关键词:VLSI,Measurement,Error |
| 基金项目: |
| DOI： |
| 引用本文：沈森祖,石坚,汪喜麟.VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法[J].计测技术,2001,(1):36~38. |
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