| 中科院力学所建成纳米检测光学测试系统 |
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| 中文摘要: |
| “纳米检测光学测试系统”由光谱椭偏仪（Spec Ellipsometer）和近场光学显微镜（SNOM）组成，前者以相敏和光谱的优势为二维纳米材料、多层纳米介质和生物分子膜层的定量光谱分析提供了高灵敏和高精度的检测手段；后者的光探针提供了表征纳米尺度微观光学性质和无扰动探测柔性生物分子及其相互作用的能力，两者的有机结合提供了一种跨尺度光学检测平台。 |
| 英文摘要: |
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| 中文关键词: 近场光学显微镜 纳米检测 测试系统 中科院 力学 光谱分析 生物分子 维纳米材料 |
| 英文关键词: |
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| DOI： |
| 引用本文：.中科院力学所建成纳米检测光学测试系统[J].计测技术,2008,28(1):58~. |
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