| 304所激光干涉比长仪通过验收 |
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| 中文摘要: |
| （本刊讯）10月20日,第二十届多国仪器仪表学术会议暨展览会（MICONEX 2009）在上海光大会展中心隆重开幕。《计测技术》作为行业内知名刊物,派专人赴上海参加了本届盛会。本届为期4天的展会,汇聚了国内外约600家知名企业参展,应用于各个行业和领域的科学仪器、工业自动化仪表与控制系统、仪器仪表工艺装备等先进产品纷纷亮相展会。记者从主办方了解到,本届展会高新技术产品比例明显提高,展品的行业覆盖面更大,基本涵盖了仪器、仪表、控制技术的各个门类,充分彰显了展会这一多维信息平台的特点。 |
| 英文摘要: |
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| 唐志峰 |
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| 中文关键词: 仪器仪表行业 上海光大会展中心 高新技术产品 工业自动化仪表 学术会议 计测技术 知名企业 科学仪器 |
| 英文关键词: |
| 基金项目: |
| DOI： |
| 引用本文：唐志峰.304所激光干涉比长仪通过验收[J].计测技术,2009,29(6):63. |
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